電磁兼容EMC測試瞬態免疫,RF抗擾度和RF發射
EMC測試對于確保產品免受電磁環境中存在的多種瞬態現象和連續射頻現象的影響是必要的。瞬態事件可能來自自然原因 - 靜電放電(ESD),閃電或人為 - 故障浪涌,開關瞬變。這些涉及在納秒或微秒范圍內的非常短持續時間的事件,其具有可以破壞或破壞電子設備中的電子電路和組件的高振幅。
還必須確保產品不會產生過高的電磁輻射,這會對附近的設備或設備造成損害。排放限制用作標準,以確保符合EMC指令的所有產品符合此要求,然后才能在使用這些標準的國家/地區向公眾銷售。
瞬態免疫測試
下面列出并說明了一些在電子產品測試中廣泛使用的主要瞬態抗擾度測試。它將詳細解釋用于模擬此類瞬變的現實生活現象的方法和標準。
靜電放電(ESD)
如果一個人走過高絕緣材料和低相對濕度,他的體電壓可以高達25kV。當他的身體接觸到任何電子設備或組件時,此電荷會被釋放,并可能導致設備中斷或損壞。
電快速瞬變(EFT)
當電路關閉時,流過開關的電流瞬間中斷。這導致觸點上的氣隙破壞,并且電流再次流動,這使電壓尖峰坍塌。這種爆裂特性會對附近的設備造成損壞。
雷電浪涌測試
這些是電子設備端口出現的高能量瞬變,由于附近的雷電浪涌或電源干擾(如故障清除或電容器組切換)而產生。
射頻抗擾度測試
隨著更多電子設備與多種無線電發射器一起存在,射頻(RF)頻譜變得越來越擁擠。因此,期望根據所定義的標準測試裝置的免疫性,以使其與其他產品區分開來。
射頻抗擾度測試
環測威提供了符合IEC標準的射頻抗擾度測試和方法。
射頻發射EMC測試
射頻輻射測試是大多數電子和電氣產品符合電磁兼容性的基本要求之一。
RF傳導和輻射發射測試
RF傳導和輻射發射測試標準和方法在此提供。
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